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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LA-D 24-25-575-760 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 575 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 24-25-575-760 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 575 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA 32-25-775-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 775 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA 32-25-775-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 775 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 32-25-775-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 775 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 32-25-775-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 775 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA 40-25-975-1160 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LA 40-25-975-1160 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 40-25-975-1160 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LA-D 40-25-975-1160 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm